
選擇與被測(cè)光纖連接器對(duì)應(yīng)的端檢儀端口, 安裝到端檢儀上(參見(jiàn)右圖1)
將端口對(duì)準(zhǔn)端口座, 右旋端口, 端口的外螺紋就旋入端口座的內(nèi)螺紋孔中,直到擰緊不松動(dòng).
用無(wú)塵紙與酒精, 清潔光纖連接器的陶瓷插芯端面(參見(jiàn)圖2).
附帶檢測(cè)陶瓷插芯端面有無(wú)倒角, 如果沒(méi)有倒角, 一律判定為不合格;
將被測(cè)陶瓷插芯插入到端口上,調(diào)焦(參見(jiàn)圖3)與調(diào)中(參見(jiàn)圖4), 使陶瓷插芯端面的纖心處于屏幕正中間, 畫(huà)面清晰;
根據(jù)光纖連接器的陶瓷插芯端面檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn), 判定被測(cè)連接器的端面是否合格;
如果判定為合格,戴上對(duì)應(yīng)規(guī)格的潔凈防塵帽; 如果判定為不合格品, 則不戴防塵帽,退回至研磨工位, 進(jìn)行返磨;
流程圖:
根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn), 光纖連接器的陶瓷插芯端面劃分為4個(gè)區(qū)域(參見(jiàn)右圖: A,B,C,D區(qū)).
不同區(qū)域的缺陷標(biāo)準(zhǔn)不一樣, 這是因?yàn)椴煌瑓^(qū)域?qū)庑盘?hào)在光纖中的傳導(dǎo)作用不一樣.
| 區(qū)域 | 單模光纖品級(jí)標(biāo)準(zhǔn) | 多模光纖品級(jí)標(biāo)準(zhǔn) | ||||||
| 一級(jí) | 二級(jí) | 二級(jí) | 三級(jí) | |||||
| 端面狀況 | 總數(shù) | 端面狀況 | 總數(shù) | 端面狀況 | 總數(shù) | 端面狀況 | 總數(shù) | |
| 纖芯 | 線(xiàn)傷:無(wú) 點(diǎn)傷:無(wú) 玷污:無(wú) |
0 | 線(xiàn)傷:無(wú) 點(diǎn)傷:無(wú) 玷污:無(wú) |
0 | 線(xiàn)傷:無(wú) 點(diǎn)傷:無(wú) 玷污:無(wú) |
0 | 線(xiàn)傷:寬度小于2.0um 點(diǎn)傷:直徑小于5.0um 玷污:無(wú) |
1 |
| A區(qū) | 線(xiàn)傷:無(wú) 點(diǎn)傷:無(wú) 玷污:無(wú) |
0 | 線(xiàn)傷:寬度小于1.0um 點(diǎn)傷:直徑小于3.0um 玷污:無(wú) |
1 | 線(xiàn)傷:寬度小于1.0um 點(diǎn)傷:直徑小于3.0um 玷污:無(wú) |
2 | 線(xiàn)傷:寬度小于2.0um 點(diǎn)傷:直徑小于10.0um 玷污:無(wú) |
2 |
| B區(qū) | 線(xiàn)傷:無(wú) 點(diǎn)傷:無(wú) 玷污:無(wú) |
0 | 線(xiàn)傷:寬度小于2.0um 點(diǎn)傷:直徑小于5.0um 玷污:無(wú) |
2 | 線(xiàn)傷:寬度小于3um 點(diǎn)傷:直徑小于30um 玷污:直徑小于30um |
3 | 線(xiàn)傷:寬度小于3.0um 點(diǎn)傷:直徑小于30um 玷污:直徑小于30um |
4 |
| B區(qū)范圍內(nèi) | 缺陷總數(shù)0個(gè) | 缺陷總數(shù)2個(gè)以?xún)?nèi) | 缺陷總數(shù)3個(gè)以?xún)?nèi) | 缺陷總數(shù)4個(gè)以?xún)?nèi) | ||||
| 邊緣 | 膠圈:寬度<2um;總長(zhǎng)度<1/4圈 | 膠圈:寬度<3um;總長(zhǎng)度<1/3圈 | 膠圈:寬度<5um;總長(zhǎng)度不計(jì) | 膠圈:寬度<5um;總長(zhǎng)度不計(jì) | ||||
| C區(qū) | 線(xiàn)傷:寬度小于3um 點(diǎn)傷:直徑小于15um 玷污:直徑小于15um |
3 | 線(xiàn)傷:寬度小于5.0um 點(diǎn)傷:直徑小于30um 玷污:直徑小于30um |
3 | 不要求 | 不要求 | ||
| D區(qū) | 不要求 | |||||||
